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이 애플리케이션 노트는 Teledyne LeCroy SPARQ 네트워크 분석기를 사용하여 초저임피던스 측정을 수행하는 기술에 대해 설명합니다. 임피던스를 밀리옴 단위로 측정하는 기능은 PCB 설계의 여러 영역, 특히 전력 분배 네트워크(PDN)에서 매우 중요합니다. 특정 테스트 설정과 몇 가지 간단한 대수학을 사용하여 SPARQ를 사용하여 임피던스를 10밀리옴까지 정확하게 측정할 수 있습니다.
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SPARQ 및 Signal Integrity Studio 소프트웨어 애플리케이션의 버전 6.9.0.3부터 사용자는 시간 단위가 아닌 X축에 거리 단위로 임피던스 프로파일 및 rho 트레이스를 표시할 수 있습니다. 또한 거리가 아닌 시간을 X축으로 사용하면 TDR 파형에서 직접 측정하는 것처럼 시간 좌표가 시간 지연에 해당하는지 또는 왕복 시간에 해당하는지 선택할 수 있습니다. 이 Technical Brief는 새로운 "Time Domain Trace Properties" 창을 사용하는 방법을 설명합니다.
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이 작동 노트는 고정 장치 및 론치의 영향을 제거하기 위해 LeCroy SPARQ 시리즈 네트워크 분석기에서 사용되는 시간 도메인 게이팅 알고리즘에 대한 지연 및 손실 입력을 결정하는 방법을 설명합니다.
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포트를 할당하는 방법은 측정 해석에 큰 영향을 미칠 수 있습니다.
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SPARQ 및 Signal Integrity Studio 소프트웨어 애플리케이션 버전 6.8.0.3부터 사용자는 Touchstone 파일을 가져오고 S-파라미터를 혼합 모드로 변환하거나 포트 번호를 재할당할 수 있습니다. 이 애플리케이션 노트는 이러한 기능을 사용하는 방법을 설명하고 4포트 및 12포트 Touchstone 파일에 대한 예제를 제공합니다.
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버전 6.8.0.3부터 시작되는 SPARQ 소프트웨어에는 Teledyne LeCroy SPARQ 시리즈 신호 무결성 네트워크 분석기로 측정한 측정값을 저장하고 불러오는 새로운 기능이 포함되어 있습니다. 이러한 기능을 통해 사용자는 이전에 수행한 결과를 쉽게 재구성한 다음 측정을 다시 실행할 필요 없이 업데이트된 S-파라미터 결과를 생성할 수 있습니다.
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Teledyne LeCroy SPARQ 신호 무결성 네트워크 분석기는 상호 연결, 백플레인 및 케이블 어셈블리에서 누화를 신속하게 특성화합니다. NEXT(Near-End Crosstalk) 및 FEXT(Far-End Crosstalk) 모두 단일 종단 또는 차동 포트 할당을 사용하여 측정할 수 있습니다. 8포트 및 12포트 SPARQ(모델 번호 SPARQ-3008E 및 SPARQ-3012E)를 사용하여 신호 무결성 엔지니어는 VNA보다 훨씬 저렴한 비용으로 다중 차동 레인 NEXT 및 FEXT 측정으로 누화 모델을 검증할 수 있습니다.
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이 심층 애플리케이션 노트는 LeCroy SPARQ 시리즈 신호 무결성 네트워크 분석기와 Cascade Microtech 프로브를 사용하여 고품질 S-파라미터 측정을 수행하는 방법에 대해 설명합니다. Cascade Microtech의 소프트웨어 패키지 WinCal XE는 SOLR, 하이브리드 SOLT-SOLR 및 LRRM-SOLR을 포함한 다양한 보정 방법을 사용하여 분석기를 보정하는 데 사용되었습니다. 애플리케이션 노트는 이러한 교정 방법을 사용하여 얻은 결과와 프로브 및 WinCal XE 소프트웨어와 함께 분석기를 작동하기 위해 수행된 단계를 비교합니다.
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LeCroy SPARQ 사용자는 SPARQ 소프트웨어의 Time Domain Gating 기능을 사용하여 S-파라미터 측정에서 프로브, 커넥터 및 론치를 제외할 수 있습니다. 이 애플리케이션 노트는 DVT Solutions의 DVT30-1mm Gigaprobe로 측정하는 방법과 측정에서 프로브를 제외하는 방법을 설명합니다.
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절차에는 다음이 포함됩니다. 스크립트 세트 다운로드할 수 있습니다. 이 애플리케이션 노트는 "Factory 2nd-tier calibration"을 수행하는 방법을 설명합니다. SPARQ의 정기적인(예: 연간) 사내 교정을 수행하려는 사용자는 이 절차를 사용하여 자동 내부 교정의 "상단"에 적용되는 "공장" 교정 파일을 생성해야 합니다. 공장 2단계 교정을 통해 사용자는 다른 테스트 장비에서 종종 수행되지만 성능만 확인하는 일반적인 "성능 확인 절차"와 달리 진정한 교정인 SPARQ의 주기적 교정을 수행할 수 있습니다.
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