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오실로스코프
T3DSO1204 오실로스코프

T3DSO1204

200 MHz, 채널당 500 MS/s, 1 GS/s 인터리브, 4CH, 14 Mpts/Ch DSO, 7" 컬러 디스플레이


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T3DSO1102   (100MHz, 2개의 입력 채널, 1GS/s 인터리브, 7 Mpts/Ch)
 
T3DSO1202A   (200MHz, 2개의 입력 채널, 2GS/s 인터리브, 14 Mpts/Ch)
Limited Availability
 
T3DSO1104   (100MHz, 4개의 입력 채널, 1GS/s 인터리브, 7 Mpts/Ch)
 
T3DSO1302A   (350MHz, 2개의 입력 채널, 2GS/s 인터리브, 14 Mpts/Ch)
Limited Availability
 
T3DSO1204   (200MHz, 4개의 입력 채널, 1GS/s 인터리브, 7 Mpts/Ch)
 
최대 개의 모델까지 확인 가능 합니다.
주요 특징들
  • 100MHz, 200MHz, 350MHz 대역폭
  • 샘플링 속도 모델에 따라 최대 2GS/s 
  • 긴 메모리 – 모델에 따라 최대 14 Mpts/Ch(28 Mpts 인터리브)
  • 7" Bright TFT LCD(800 x 480)
  • 시리얼 버스 트리거 및 디코드 표준 – I2C, SPI, UART, RS232, CAN, LIN을 통해 사용자가 오실로스코프에서 직접 시리얼 버스 디버그 가능
  • MSO 옵션 – 16개 디지털 채널  (T3DSO1102 제외)오실로스코프에 혼합 신호 디버깅을 추가합니다. 
  • 고급 트리거 – 에지, 기울기, 펄스 폭, 윈도우, 런트, 주기, 시간 초과(드롭아웃), 패턴
  • 파형 시퀀스 레코더 – 최대 80,000개의 파형을 기록하고 재생합니다. 사용자가 파형 기록에서 발생한 변경 사항을 재생할 수 있습니다.
  • 연결 – 대용량 저장, 인쇄 및 PC 제어를 위한 USB 및 빠른 데이터 전송을 위한 LAN

 

모델에 따라 최대 28 Mpts의 레코드 길이

하드웨어 기반 Zoom 기술을 사용하면 최대 28Mpts의 기록 길이를 초과 샘플링하여 더 긴 시간 주기를 더 높은 해상도로 캡처하고 줌 기능을 사용하여 각 신호 내에서 더 많은 세부 정보를 볼 수 있습니다.

우수한 샘플링 속도

두 채널 시리즈에는 모델에 따라 1 GSa/s 또는 2 GSa/s ADC가 하나씩 있습니다. 모든 채널을 사용하는 경우 각 채널 당 최대 샘플링 속도는 모델에 따라 500Msa/s 또는 1GSa/s입니다. ADC당 단일 채널이 활성화되면 모델에 따라 샘플링 속도가 1GSa/s 또는 2GSa/s입니다. 4개 채널 시리즈에는 2개의 1GSa/s ADC가 있습니다. 모든 채널이 활성화된 경우 각 채널의 최대 샘플링 속도는 500MSa/s입니다. ADC당 단일 채널이 활성화된 경우 샘플링 속도는 1GSa/s입니다.

고급 파형 캡처 속도

최대 400,000wfm/s(시퀀스 모드)의 파형 캡처 속도로 오실로스코프는 비정상적이거나 드물게 발생하는 이벤트를 쉽게 캡처할 수 있습니다.

차세대 고속 디스플레이 기술
  • 파형 캡처 속도는 최대 100,000wfm/s(일반 모드) 및 400,000wfm/s 시퀀스 모드입니다.
  • 256레벨 명암 등급 및 컬러 디스플레이 모드 지원 최대 28Mpts의 레코드 길이
연산 함수

FFT, 덧셈, 뺄셈, 곱셈, 나눗셈, 적분, 미분, 제곱근으로 파형 및 측정에서 결과를 빠르게 추출할 수 있습니다.

256-레벨 명암 등급 및 색온도 표시

새로운 디스플레이 기술은 빠른 재생률을 제공합니다. 결과 강도 등급 트레이스는 더 많은 빈도로 발생하는 이벤트에 대해 더 밝고 이벤트가 더 적은 빈도로 발생할 때 흐려집니다.

자동 측정

측정 통계, 확대/축소, 게이팅, 수학, 히스토리 및 참조 기능을 포함하는 최대 38개의 파라미터.

히스토리 파형(히스토리) 모드 및 세그먼트 수집(시퀀스)

히스토리 기능을 사용하여 최근에 트리거된 이벤트를 재생합니다. 세그먼트 메모리 수집은 트리거 이벤트를 여러(최대 80,000) 메모리 세그먼트에 저장합니다. 각 세그먼트는 트리거된 파형을 저장하고 각 프레임에 타임스탬프를 표시합니다.

게이트 및 줌 측정

Gate 및 Zoom 측정을 통해 사용자는 파형 데이터 분석 및 통계의 임의 간격을 지정할 수 있습니다. 이는 유효하지 않거나 관련 없는 데이터로 인해 발생할 수 있는 측정 오류를 방지하여 측정의 유효성과 유연성을 크게 향상시킵니다.

멀티 인터페이스 유형

USB 호스트, USB 디바이스(USB-TMC), LAN, Trigger Out을 통해 사용자는 외부 분석을 위한 데이터와 보고서용 화면 이미지를 저장할 수 있습니다.

 

 

혼합 신호 옵션

T3DSO1000-MSO
MSO 로직 분석기 소프트웨어 옵션 T3DSO1000(요구 T3DSO1000-LS)

기타 소프트웨어 옵션

T3DSO1000-FG
25MHz 펑션/임의 파형 발생기 SW 옵션 T3DSO1000(요구 T3DSO1000-FGMOD-A)

기타 액세서리

T3DSO1000-LS
MSO 로직 프로브 리드 세트, 16채널, 500MSa/s, 14 Mpts for T3DSO1000(MSO 옵션 필요)
T3DSO1000-FGMOD-A
25MHz 펑션/임의 파형 발생기 모듈(FG 옵션 필요) T3DSO1000/A 시리즈) Limited Availability

Passive Probes

T3PP350
T3DSO 패시브 프로브, 350MHz, 10:1, 1MOhm/10MOhm, 300Vrms CAT II