주요 특징
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100Base-T1(IEEE 802.3bw), BroadR-Reach 및 TC8 지원
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고도로 자동화되어 사용하기 쉽습니다.
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내장형 자동 S-파라미터 보정
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케이블을 테스트 픽스처에 자동으로 제외
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합격/불합격 결과 보고서 생성
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모든 MDI S-파라미터 테스트 지원
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MDI 반사 손실(Sdd11)
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MDI 모드 변환 손실(Sdc11)
자동화된 컴플라이언스 테스트
QPHY-100Base-T1-TDR은 100Base-T1, BroadR-Reach 및 TC8 사양에 따라 PMA(Physical Media Attachment)의 MDI S-매개변수 적합성 테스트를 수행합니다. 자세한 연결 다이어그램은 적절한 설정을 보장합니다. 테스트 세션이 완료되면 결과가 스크린샷을 포함하여 포괄적인 통과/실패 보고서로 자동 컴파일됩니다.
S-파라미터 자동 보정 및 케이블 디임베딩
QPHY-100Base-T1-TDR은 필요한 기준면 교정을 자동으로 수행하고 테스트 픽스처에 연결하는 데 사용되는 케이블을 자동으로 제외합니다.
MDI 반사 손실(Sdd11)
반사 손실은 MDI(Medium Dependent Interface)에서 측정되며, 이는 임피던스 불일치로 인해 반사되는 차동 신호의 전력과 차동 입사 신호(차동 대 차동)의 전력 간의 비율입니다. 또한 100BASE-T1 및 1000Base-T1 호환 장치의 경우 이상적으로 100Ω인 차동 특성 임피던스가 측정됩니다.
MDI 모드 변환 손실(Sdc11)
모드 변환 손실은 MDI에서 측정되며, 이는 임피던스 불일치로 인해 반사되는 차동 신호의 전력과 DUT 및 테스트 픽스쳐만.
또한 100BASE-T1 및 1000Base-T1 호환 장치의 경우 이상적으로 각각 100Ω 및 25Ω인 차동 및 공통 모드 특성 임피던스가 측정됩니다.
신뢰할 수 있는 테스트 픽스처 특성화
MDI S-파라미터 및 모드 변환 손실을 측정할 때 테스트 설정에서 케이블링 및 테스트 픽스처의 임피던스 균형이 중요합니다. WavePulser 40iX 케이블 및 테스트 장치의 임피던스 프로파일을 측정하여 두 신호 D+ 및 D-의 경로가 동일한지 확인하여 전기적 차이로 인해 모드 변환이 발생하지 않도록 합니다. DUT MDI를 테스트 장비에 연결하는 데 사용되는 테스트 픽스처의 정확한 특성화는 사용 중인 픽스처가 MDI 요구 사항에 비해 모드 변환 손실 마진이 충분하다는 확신을 제공합니다.