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SDM

시리얼 데이터 마스크 패키지

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주요 기능

소프트웨어 클럭 복구로 트리거 지터 제거

최대 3.5Gb/s의 데이터 속도 측정

자동 마스크 정렬

마스크 마진 조정 가능

사용자 정의 마스크 생성

FC1063 광 신호의 아이 패턴
Teledyne LeCroy의 WaveMaster 시리즈, WavePro 7000 시리즈, WaveRunner 6000 및 6000A 시리즈와 VBA는 SDM 시리얼 데이터 마스크 패키지를 추가하여 아이 패턴 마스크 테스트 기능을 사용할 수 있습니다. 사용자는 여러 표준 인터페이스 목록에서 원하는 컴플라이언스 마스크를 선택하고 이 마스크를 적용하여 아이 패턴 테스트를 수행합니다. 포함된 Microsoft™ Access2000™ 데이터베이스 파일을 간단히 편집하여 사용자 정의 마스크도 생성 가능합니다. 아이 패턴은 컴플라이언스 마스크와 자동으로 정렬됩니다.

SDM 패키지는 테스트 중인 데이터 스트림에서 긴 파형 데이터 레코드를 포착하여 아이 패턴을 측정합니다. 오실로스코프의 메모리에 저장되면 소프트웨어 알고리즘은 하드웨어에서 동작하는 것과 같은 "Golden" PLL 을 수행하여 데이터 속도의 장기 변화를 추적하는 신호 데이터에서 기준 클럭을 계산합니다. 이 소프트웨어 골든 PLL의 루프 대역폭은 측정된 비트 전송률의 비율로 조정 가능합니다. 이 비율은 1/20에서 1/10,000까지 가변적입니다. 마스크를 침범한 데이터가 있으면 화면에서 해당 위치에 빨간색 원으로 표시됩니다. 마스크 마진은 수직 및 수평으로 모두 조정 가능합니다.

아이 패턴에 대한 모든 데이터는 단일 수집으로 수집되므로 측정에서 트리거 지터를 완전히 제거합니다.

SDM – 직렬 데이터 마스크 소프트웨어 기술 사양

소프트웨어 클럭 복구

PLL 대역폭:  데이터 속도의 .05 ~ 10-5 
지터:  1ps RMS 일반(기준 WaveMaster 샘플링 클럭 안정성)
데이터 속도 :  3.5Gb/s 미만

표준 마스크

SONET / SDH
OC1/STM0
OC3/STM1
OC12/STM4
OC48/STM16
이더넷 IEEE 표준. 802.3 및 ANSI X3.263-1995
1000base-SX short wave optical
1000 base-LX long wave optical 
파이버 채널 전기 
FC133E, FC266E, FC531E, FC1063E
파이버 채널 광
FC1063
IEEE1394b(draft)
S400 Optical 
S400b T1
S400b T2
S800 Optical
S800b T1
S800b T2
S1600 Optical
S1600b T1
S1600b T2
Serial ATA(draft) 
G1, G1 Rx, G1 Tx
G2, G2 Rx, G2 Tx
DVI(개정판 1.0)
Transmit normalized, 
리시버 Low/High
인피니밴드(draft) 
2.5Gb/s Optical 
2.5Gb/s Electrical 
HDO6000B 고해상도 오실로스코프


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