주요 기능
소프트웨어 클럭 복구로 트리거 지터 제거
최대 3.5Gb/s의 데이터 속도 측정
자동 마스크 정렬
마스크 마진 조정 가능
사용자 정의 마스크 생성
FC1063 광 신호의 아이 패턴
Teledyne LeCroy의 WaveMaster 시리즈, WavePro 7000 시리즈, WaveRunner 6000 및 6000A 시리즈와 VBA는 SDM 시리얼 데이터 마스크 패키지를 추가하여 아이 패턴 마스크 테스트 기능을 사용할 수 있습니다. 사용자는 여러 표준 인터페이스 목록에서 원하는 컴플라이언스 마스크를 선택하고 이 마스크를 적용하여 아이 패턴 테스트를 수행합니다. 포함된 Microsoft™ Access2000™ 데이터베이스 파일을 간단히 편집하여 사용자 정의 마스크도 생성 가능합니다. 아이 패턴은 컴플라이언스 마스크와 자동으로 정렬됩니다.
SDM 패키지는 테스트 중인 데이터 스트림에서 긴 파형 데이터 레코드를 포착하여 아이 패턴을 측정합니다. 오실로스코프의 메모리에 저장되면 소프트웨어 알고리즘은 하드웨어에서 동작하는 것과 같은 "Golden" PLL 을 수행하여 데이터 속도의 장기 변화를 추적하는 신호 데이터에서 기준 클럭을 계산합니다. 이 소프트웨어 골든 PLL의 루프 대역폭은 측정된 비트 전송률의 비율로 조정 가능합니다. 이 비율은 1/20에서 1/10,000까지 가변적입니다. 마스크를 침범한 데이터가 있으면 화면에서 해당 위치에 빨간색 원으로 표시됩니다. 마스크 마진은 수직 및 수평으로 모두 조정 가능합니다.
아이 패턴에 대한 모든 데이터는 단일 수집으로 수집되므로 측정에서 트리거 지터를 완전히 제거합니다.
SDM – 직렬 데이터 마스크 소프트웨어 기술 사양
소프트웨어 클럭 복구
| PLL 대역폭: | 데이터 속도의 .05 ~ 10-5 |
| 지터: | 1ps RMS 일반(기준 WaveMaster 샘플링 클럭 안정성) |
| 데이터 속도 : | 3.5Gb/s 미만 |
표준 마스크
SONET / SDH
| OC1/STM0
OC3/STM1
OC12/STM4
OC48/STM16 |
이더넷 IEEE 표준. 802.3 및 ANSI X3.263-1995
| 1000base-SX short wave optical
1000 base-LX long wave optical |
파이버 채널 전기
| FC133E, FC266E, FC531E, FC1063E |
파이버 채널 광
| FC1063 |
IEEE1394b(draft)
| S400 Optical
S400b T1
S400b T2
S800 Optical
S800b T1
S800b T2
S1600 Optical
S1600b T1
S1600b T2 |
Serial ATA(draft)
| G1, G1 Rx, G1 Tx
G2, G2 Rx, G2 Tx |
DVI(개정판 1.0)
| Transmit normalized,
리시버 Low/High |
인피니밴드(draft)
| 2.5Gb/s Optical
2.5Gb/s Electrical |